Test séquentiel: niveau de confiance après acceptation
Revue de Statistique Appliquée, Tome 51 (2003) no. 3, pp. 75-92.
@article{RSA_2003__51_3_75_0,
     author = {d'Estampes, L. and Garel, B. and Saint Pierre, G.},
     title = {Test s\'equentiel: niveau de confiance apr\`es acceptation},
     journal = {Revue de Statistique Appliqu\'ee},
     pages = {75--92},
     publisher = {Soci\'et\'e fran\c{c}aise de statistique},
     volume = {51},
     number = {3},
     year = {2003},
     language = {fr},
     url = {http://www.numdam.org/item/RSA_2003__51_3_75_0/}
}
TY  - JOUR
AU  - d'Estampes, L.
AU  - Garel, B.
AU  - Saint Pierre, G.
TI  - Test séquentiel: niveau de confiance après acceptation
JO  - Revue de Statistique Appliquée
PY  - 2003
SP  - 75
EP  - 92
VL  - 51
IS  - 3
PB  - Société française de statistique
UR  - http://www.numdam.org/item/RSA_2003__51_3_75_0/
LA  - fr
ID  - RSA_2003__51_3_75_0
ER  - 
%0 Journal Article
%A d'Estampes, L.
%A Garel, B.
%A Saint Pierre, G.
%T Test séquentiel: niveau de confiance après acceptation
%J Revue de Statistique Appliquée
%D 2003
%P 75-92
%V 51
%N 3
%I Société française de statistique
%U http://www.numdam.org/item/RSA_2003__51_3_75_0/
%G fr
%F RSA_2003__51_3_75_0
d'Estampes, L.; Garel, B.; Saint Pierre, G. Test séquentiel: niveau de confiance après acceptation. Revue de Statistique Appliquée, Tome 51 (2003) no. 3, pp. 75-92. http://www.numdam.org/item/RSA_2003__51_3_75_0/

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