no. 1
Comparaison de différentes analyses statistiques spatiales pour détecter une défaillance dans la fabrication de circuits intégrés
Revue de Statistique Appliquée, Tome 52 (2004) no. 1, pp. 5-37 
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TY  - JOUR
AU  - Le Gall, Caroline
TI  - Comparaison de différentes analyses statistiques spatiales pour détecter une défaillance dans la fabrication de circuits intégrés
JO  - Revue de Statistique Appliquée
PY  - 2004
SP  - 5
EP  - 37
VL  - 52
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PB  - Société française de statistique
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Le Gall, Caroline. Comparaison de différentes analyses statistiques spatiales pour détecter une défaillance dans la fabrication de circuits intégrés. Revue de Statistique Appliquée, Tome 52 (2004) no. 1, pp. 5-37. https://www.numdam.org/item/RSA_2004__52_1_5_0/

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