@article{RSA_2003__51_3_75_0,
author = {d'Estampes, L. and Garel, B. and Saint Pierre, G.},
title = {Test s\'equentiel: niveau de confiance apr\`es acceptation},
journal = {Revue de Statistique Appliqu\'ee},
pages = {75--92},
year = {2003},
publisher = {Soci\'et\'e fran\c{c}aise de statistique},
volume = {51},
number = {3},
language = {fr},
url = {https://www.numdam.org/item/RSA_2003__51_3_75_0/}
}
TY - JOUR AU - d'Estampes, L. AU - Garel, B. AU - Saint Pierre, G. TI - Test séquentiel: niveau de confiance après acceptation JO - Revue de Statistique Appliquée PY - 2003 SP - 75 EP - 92 VL - 51 IS - 3 PB - Société française de statistique UR - https://www.numdam.org/item/RSA_2003__51_3_75_0/ LA - fr ID - RSA_2003__51_3_75_0 ER -
%0 Journal Article %A d'Estampes, L. %A Garel, B. %A Saint Pierre, G. %T Test séquentiel: niveau de confiance après acceptation %J Revue de Statistique Appliquée %D 2003 %P 75-92 %V 51 %N 3 %I Société française de statistique %U https://www.numdam.org/item/RSA_2003__51_3_75_0/ %G fr %F RSA_2003__51_3_75_0
d'Estampes, L.; Garel, B.; Saint Pierre, G. Test séquentiel: niveau de confiance après acceptation. Revue de Statistique Appliquée, Tome 51 (2003) no. 3, pp. 75-92. https://www.numdam.org/item/RSA_2003__51_3_75_0/
[1] (1968), Sequential Analysis, Direct Method. Technometrics, Volume 10, pp. 125-132. | MR
[2] et (1979), Confidence Limits on MTBF for Sequential Test Plans of MIL-STD 781. Technometrics, Volume 21, pp. 33- 42. | Zbl
[3] , et (1963), Sequential decision problem for processus with continuous time parameter. Testing hypothesis, Ann. Math. Stat., Vol 24, pp. 254-264. | Zbl
[4] et (1955), Sequential Life Tests in Exponential Case. Ann. Math. Stat., Vol 26, pp. 82- 93. | Zbl | MR
[5] (1970), Sequential Tests of Statistical Hypotheses. Addison-Wesley publishing company. | Zbl | MR
[6] (2001), Probabilités de confiance après décision lors d'un test séquentiel avec un temps de bon fonctionnement de loi exponentielle. Mémoire de DEA sous la direction de B.Garel.
[7] (1997), C'est bon à savoir! Et si vous êtiez un bayésien qui s'ignore. Modulad, N° 18, INRIA (8), pp. 81-87.
[8] MIL-HDBK-781A. (04/1998), Hetbook for reliability test methods, plans, et environments for engineering, development, qualification, et production. Department of Defense (USA).
[9] et (1963), Introduction to the theory of Statistics (2nd ed.). Mc Graw-Hill.
[10] (1983), Méthodes de calcul numérique. Masson. | Zbl
[11] (1985), Sequential Analysis : tests et confidence intervals. Springer-Verlag. | Zbl | MR
[12] (1985), Méthodes Statistiques. Economica.
[13] (1947), Sequential Analysis. John Wiley & Sons, New York. | Zbl | MR






