no. 3
Modélisation multidimensionnelle des taux de défaillance de composants électroniques
Revue de Statistique Appliquée, Tome 22 (1974) no. 3, pp. 43-67 
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Ligeron, J. C.; Goarin, R. Modélisation multidimensionnelle des taux de défaillance de composants électroniques. Revue de Statistique Appliquée, Tome 22 (1974) no. 3, pp. 43-67. https://www.numdam.org/item/RSA_1974__22_3_43_0/

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