Tome 16 (1968) no. 1

Sommaire

Quelques remarques sur les plans d'échantillonnage
p. 5-35
Expressions générales concernant la fiabilité de systèmes réparables
p. 37-57
Simulation par aléatoires de l'indice de concordance de Theil
p. 59-75
Puissance de quelques tests classiques effectif d’échantillon pour des risques α,β fixés
p. 77-126