no. 2
Algorithmes EM et SEM pour un mélange censuré de distributions de défaillances. Application à la fiabilité d'équipements électroniques en période de jeunesse
Revue de Statistique Appliquée, Tome 40 (1992) no. 2, pp. 67-76. 
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Chauveau, Didier. Algorithmes EM et SEM pour un mélange censuré de distributions de défaillances. Application à la fiabilité d'équipements électroniques en période de jeunesse. Revue de Statistique Appliquée, Tome 40 (1992) no. 2, pp. 67-76. http://www.numdam.org/item/RSA_1992__40_2_67_0/

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