Plans d'échantillonnage progressifs par attributs. Application aux plans normalisés MIL-STD 105 D
Revue de Statistique Appliquée, Volume 30 (1982) no. 2, p. 5-20
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     author = {Vessereau, Andr\'e},
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     journal = {Revue de Statistique Appliqu\'ee},
     publisher = {Soci\'et\'e de Statistique de France},
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Vessereau, A. Plans d'échantillonnage progressifs par attributs. Application aux plans normalisés MIL-STD 105 D. Revue de Statistique Appliquée, Volume 30 (1982) no. 2, pp. 5-20. http://www.numdam.org/item/RSA_1982__30_2_5_0/

[1] Wald A. - Sequential analysis. John Wiley & Sons, London & New-York, (1947). | MR 20764 | Zbl 0029.15805

[2] Wetherill - Sequential methods in statistics. Traduction française par P. Gabe "Méthodes séquentielles en statistique" Dunod, Paris (1969).

[3] INDIAN STANDARD - IS.2500 (Part I). Inspection by attributes and by count of defects (1973).