TY  - JOUR
AU  - Le Gall, Caroline
TI  - Comparaison de différentes analyses statistiques spatiales pour détecter une défaillance dans la fabrication de circuits intégrés
JO  - Revue de Statistique Appliquée
PY  - 2004
SP  - 5
EP  - 37
VL  - 52
IS  - 1
PB  - Société française de statistique
UR  - http://www.numdam.org/item/RSA_2004__52_1_5_0/
LA  - fr
ID  - RSA_2004__52_1_5_0
ER  -