%0 Journal Article
%A Le Gall, Caroline
%T Comparaison de différentes analyses statistiques spatiales pour détecter une défaillance dans la fabrication de circuits intégrés
%J Revue de Statistique Appliquée
%D 2004
%P 5-37
%V 52
%N 1
%I Société française de statistique
%U http://www.numdam.org/item/RSA_2004__52_1_5_0/
%G fr
%F RSA_2004__52_1_5_0