TY  - JOUR
AU  - Ringler, J.
TI  - Une extension de l'approche résistance/contrainte appliquée à la modélisation des lois de défaillance des composants électroniques
JO  - Revue de Statistique Appliquée
PY  - 1983
SP  - 19
EP  - 42
VL  - 31
IS  - 2
PB  - Société de Statistique de France
UR  - http://www.numdam.org/item/RSA_1983__31_2_19_0/
LA  - fr
ID  - RSA_1983__31_2_19_0
ER  -