TY  - JOUR
AU  - Ligeron, J. C.
AU  - Goarin, R.
TI  - Modélisation multidimensionnelle des taux de défaillance de composants électroniques
JO  - Revue de Statistique Appliquée
PY  - 1974
SP  - 43
EP  - 67
VL  - 22
IS  - 3
PB  - Société de Statistique de France
UR  - http://www.numdam.org/item/RSA_1974__22_3_43_0/
LA  - fr
ID  - RSA_1974__22_3_43_0
ER  -