TY  - JOUR
AU  - Boulanger, Jean-François
AU  - Corset, Franck
AU  - Iutzeler, Franck
AU  - Lelong, Jérôme
TI  - Classifying and explaining defects with small data for the semiconductor industry
JO  - MathematicS In Action
PY  - 2022
SP  - 109
EP  - 114
VL  - 11
IS  - 1
PB  - Société de Mathématiques Appliquées et Industrielles
UR  - http://www.numdam.org/articles/10.5802/msia.20/
DO  - 10.5802/msia.20
LA  - en
ID  - MSIA_2022__11_1_109_0
ER  -